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反射式膜厚測(cè)量?jī)x

更新時(shí)間:2024-08-16

簡(jiǎn)要描述:

A3-SR系列反射式膜厚儀可用于測(cè)量半導(dǎo)體鍍膜,手機(jī)觸摸屏ITO等鍍膜厚度,PET柔性涂布的膠厚等厚度,LED鍍膜厚度,建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測(cè)量膜厚的場(chǎng)合。

訪(fǎng)問(wèn)次數(shù):1781廠商性質(zhì):代理商

反射式膜厚測(cè)量?jī)x

A3-SR 系列反射式膜厚測(cè)量?jī)x可用于測(cè)量半導(dǎo)體鍍膜,手機(jī)觸摸屏ITO等鍍膜厚度,PET柔性涂布的膠厚等厚度,LED鍍膜厚度,建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測(cè)量膜厚的場(chǎng)合。A3-SR系列可用于測(cè)量2納米到3000微米的膜厚,測(cè)量精度達(dá)到0.1納米。 在折射率未知的情況下,A3-SR 還可用于同時(shí)對(duì)折射率和膜厚進(jìn)行測(cè)量。配手持式探頭,A3-SR 可以用來(lái)一鍵式測(cè)量車(chē)燈罩表面硬化膜(包括過(guò)渡層)和背面的防霧層,精度達(dá)到0.02um, 只需1秒鐘,還可以測(cè)量?jī)?nèi)飾件,外飾件的鋁陽(yáng)極氧化層和漆層的厚度,精度達(dá)到0.02um

此外,A3-SR 還可用于測(cè)量樣品的顏色和反射率。樣品光斑在1毫米以?xún)?nèi)。A3-SR進(jìn)行測(cè)量簡(jiǎn)單可靠,實(shí)際測(cè)量采樣時(shí)間低于1秒。配合我們的Apris SpectraSys 軟件進(jìn)行手動(dòng)測(cè)量,每次測(cè)量時(shí)間低于5秒。Apris SpectraSys支持50層膜以?xún)?nèi)的模型并可對(duì)多層膜厚參數(shù)進(jìn)行測(cè)量。Apris SpectraSys 軟件還擁有近千種材料的材料數(shù)據(jù)庫(kù),同時(shí)支持函數(shù)型(Cauchy, Cauchy-Urbach,Sellmeier), 物理光學(xué)(Drude-Lorentz,Tauc-Lorentz),混合型(Maxwell Garnett, Bruggeman)EMA 等折射率模型。

同時(shí),客戶(hù)還可以通過(guò)軟件自帶數(shù)據(jù)庫(kù)對(duì)材料,菜單進(jìn)行管理并回溯檢查測(cè)量結(jié)果。目標(biāo)應(yīng)用:半導(dǎo)體鍍膜,光刻膠玻璃減反膜測(cè)量藍(lán)寶石鍍膜,光刻膠ITO 玻璃太陽(yáng)能鍍膜玻璃各種襯底上的各種膜厚,顏色測(cè)量卷對(duì)卷柔性涂布光學(xué)膜其他需要測(cè)量膜厚的場(chǎng)合

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產(chǎn)品型號(hào)和系統(tǒng)設(shè)置:

產(chǎn)品型號(hào)

A3-SR-200

產(chǎn)品尺寸

W270*D217*H90+H140

測(cè)試支架

測(cè)試方式

紫外+可見(jiàn)+UV+VIS

反射(R)

波長(zhǎng)范圍

250-1050納米

光源

鎢鹵素?zé)?span>+氘燈 鹵素?zé)魳?biāo)稱(chēng)壽命10000小時(shí),氘燈標(biāo)稱(chēng)壽命1500小時(shí)

光路和傳感器

光纖式(FILBER )+進(jìn)口光譜儀

入射角

0 (垂直入射) (0 DEGREE)

參考光樣品

硅片

光斑大小

LIGHT SPOT

About   1 mm(標(biāo)配,可以根據(jù)用戶(hù)要求配置)

樣品大小

SAMPLE SIZE

10 mm TO 300 mm (可以根據(jù)用戶(hù)要求配置)

膜厚測(cè)量性能指標(biāo)(THICKNESS SPECIFICATION):

產(chǎn)品型號(hào)

A3-SR-200

厚度測(cè)量 1

Thickness范圍

2 nm - 100 200um

折射率 1(厚度要求)

N  

50nm and up

準(zhǔn)確性 2  

Accuracy

2 nm 0. 5%

精度 3

precision

0.1 nm

1表內(nèi)為典型數(shù)值, 實(shí)際上材料和待測(cè)結(jié)構(gòu)也會(huì)影響性能

2 使用硅片上的二氧化硅測(cè)量,實(shí)際上材料和待測(cè)結(jié)構(gòu)也會(huì)影響性能

3 使用硅片上的二氧化硅(500納米)測(cè)量30次得出的1階標(biāo)準(zhǔn)均方差,每次測(cè)量小于1.

軟件(SOFTWARE)

檢測(cè)項(xiàng)目

標(biāo)準(zhǔn)型

層數(shù)

10

材料

表格型和函數(shù)型

粗糙度模型

反射/透射

反射型+透射型

材料庫(kù)

表格型+函數(shù)型

入射角

垂直入射

折射率測(cè)量




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