反射式膜厚儀對(duì)材料表面起保護(hù),裝飾作用的覆蓋層,如涂層,鍍層,敷層,貼層,化學(xué)生成膜等,在一些國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層。
覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié),是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國(guó)際化,我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中,對(duì)覆層厚度有了明確要求。
覆層厚度的測(cè)量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測(cè)量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。這些方法中前五種是有損檢測(cè),測(cè)量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗(yàn)。
反射式膜厚儀的使用注意事項(xiàng):
1.零點(diǎn)校準(zhǔn)
在每次使用膜厚儀之前需要進(jìn)行光學(xué)校準(zhǔn),因?yàn)橹暗臏y(cè)量參數(shù)會(huì)影響該次對(duì)物體的測(cè)量,零點(diǎn)校準(zhǔn)可以消除前次測(cè)量有參數(shù)的影響,能夠降低測(cè)量的結(jié)果的誤差,使測(cè)量結(jié)果更加精確。
2.基體厚度不宜過薄
在使用反射式膜厚儀對(duì)物體進(jìn)行測(cè)量時(shí)基體不宜過薄,否則會(huì)極大程度的影響儀器的測(cè)量精度,造成數(shù)據(jù)結(jié)果不準(zhǔn)確,影響測(cè)量過程的正常進(jìn)行。
3.物體表面粗糙程度
對(duì)于被測(cè)物體的表面不宜太過粗糙,因?yàn)榇植诘谋砻嫒菀滓鸸獾难苌?,降低了光學(xué)測(cè)量?jī)x的測(cè)量精度,造成很大的誤差。所以被測(cè)物體的表面應(yīng)該盡量保持光滑,以保證測(cè)量結(jié)果的精確性。